5月16日，SEMI-e第五届深圳国际半导体技术暨应用展览会在深圳国际会展中心（宝安新馆）重磅启幕，Firstack携IGBT&SiC器件动态特性分析仪ME300D-SE精彩亮相。
SEMI-e第五届深圳国际半导体技术暨应用展览会以“芯机会•智未来〞为主题，打造集商贸对接、信息交流、新品展示、技术讨论、品牌推广于一体的平台，力邀半导体行业权威精英，紧抓行业热点，以提升和优化产业为基本目标，构建半导体产业交流融合的新生态，为行业升级注入澎湃动能。
作为行业内优秀的电力电子领域创新型公司，Firstack受邀参加此次展会，首次展出IGBT&SiC器件动态特性分析仪ME300D-SE设备。该设备具有支持测试标准、流程自定义、流程自定义，寄生电感<10nH，单工况测试时间<20s等特点，是一款高性价比实验室动态特性测试设备。
Firstack在展会现场进行了ME300D-SE实物展示，并由Firstack工作人员进行现场调试，为观众演示设备运行情况，吸引众多参展人士的关注。
Firstack此次展出的ME300D-SE受到了一致好评。Firstack以专业的技术专家团队为核心竞争力，专注于为客户带来高可靠性 、高功率密度、智能化的功率半导体整体解决方案，服务于电动汽车、新能源发电等国家战略新兴产业，未来Firstack将继续研发出更多创新产品，助推功率半导体的新发展。